文章摘要
饰品银含量和覆盖层厚度的X射线荧光检测
Testing of Silver Content and Coating Thickness of Jeweler by X-ray Fluorescence Spectrometer
投稿时间:2018-05-04  
DOI:
中文关键词: 分析化学  X射线荧光法  银饰品  覆盖层厚度  样品总厚度
英文关键词: analysis chemistry  X-ray fluorescence  silver jeweler  coating thickness  jeweler thickness
基金项目:
作者单位E-mail
吴奕阳 国家金银制品质量监督检验中心上海上海市计量测试技术研究院上海 200233 wuyy@simt.com.cn 
杨鹔 国家金银制品质量监督检验中心南京南京市产品质量监督检验院南京 210018 2859636066@qq.com 
黄国芳 国家金银制品质量监督检验中心上海上海市计量测试技术研究院上海 200233  
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中文摘要:
      采用X射线荧光显微仪和X射线荧光镀层测厚仪,以及K值计算法,对银饰品中银含量、镍覆盖层厚度和样品总厚度进行检测研究。银含量检测的结果与国家标准溴化钾容量法(电位滴定法)(GB/T 17832-2008)的检测结果吻合。
英文摘要:
      X-ray fluorescence microscope analyzer and X-ray coating thickness meter were used to study on testing of silver content, nickel coating thickness and jeweler thickness of silver jeweler. Among those, K value calculated method was applied to obtain the results of silver contents, which were almost equal to the results by national standard volumetric(potentionmetric) method using potassium bromide (GB/T 17832-2008).
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